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專利名稱：一種基于供體-受體濃度比預(yù)處理FRET雙雜交檢測(cè)數(shù)據(jù)的方法

專利號(hào)＼申請(qǐng)?zhí)枺?/strong>2018102505371

注冊(cè) 地：中國(guó)

專利類(lèi)型：發(fā)明

專利領(lǐng)域：電學(xué)

聯(lián) 系人：溫建梅
聯(lián)系方式：020-38743199
簡(jiǎn)介說(shuō)明：
當(dāng)前權(quán)利人：華南師范大學(xué)
本發(fā)明公開(kāi)了一種基于供體‑受體濃度比預(yù)處理FRET雙雜交檢測(cè)數(shù)據(jù)的方法。該方法包括如下步驟：(1)分別測(cè)量每個(gè)活細(xì)胞的EA、ED、DEST和AEST，并根據(jù)供體‑受體濃度比RDA＝DEST/AEST，將獲得的每個(gè)活細(xì)胞的數(shù)據(jù)根據(jù)RDA的數(shù)值大小進(jìn)行排序；(2)將排序后的RDA按等間隔劃分區(qū)間；(3)分別計(jì)算各RDA區(qū)間內(nèi)細(xì)胞數(shù)據(jù)EA、ED、DEST和AEST的平均值；(4)利用預(yù)處理后的數(shù)據(jù)計(jì)算自由供體濃度Dfree和自由受體濃度Afree，并用于朗格繆爾型FRET結(jié)合曲線的擬合分析。本發(fā)明方法極大地提高FRET雙雜交檢測(cè)分析的穩(wěn)定性和分析結(jié)果的可靠性。

專利名稱：藍(lán)光邊發(fā)射激光器及其制備方法

專利號(hào)＼申請(qǐng)?zhí)枺?/strong>2018113722432

注冊(cè) 地：中國(guó)

專利類(lèi)型：發(fā)明

專利領(lǐng)域：電學(xué)

聯(lián) 系人：溫建梅
聯(lián)系方式：020-38743199
簡(jiǎn)介說(shuō)明：
當(dāng)前權(quán)利人：華南師范大學(xué)
本發(fā)明涉及藍(lán)光邊發(fā)射激光器及其制備方法，其包括依次層疊于襯底上的外延結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述外延結(jié)構(gòu)包括N型緩沖層、N型限制層、N型波導(dǎo)層、量子阱有源區(qū)、P型波導(dǎo)層、P型限制層、P型緩沖層以及歐姆接觸層，在所述邊發(fā)射激光器的出光面設(shè)置有石墨烯層與金顆粒的復(fù)合結(jié)構(gòu)。本發(fā)明將通過(guò)石墨烯與金顆粒的復(fù)合結(jié)構(gòu)與激光器的激光耦合，產(chǎn)生等離子激元效應(yīng)，通過(guò)金屬成分的等離激元效應(yīng)增強(qiáng)光吸收，然后將吸收的光傳輸?shù)绞┎糠郑瑢⒐鈭?chǎng)限制在衍射極限以下，提升了藍(lán)光波段邊發(fā)射激光器的發(fā)射效率。并且本發(fā)明提供的用于邊發(fā)射激光器的石墨烯與金顆粒的復(fù)合結(jié)構(gòu)，其制備工藝簡(jiǎn)單，并且與本發(fā)明的邊發(fā)射激光器制備工藝完全兼容。

專利名稱：一種利用熱聲成像檢測(cè)異物的方法及其裝置

專利號(hào)＼申請(qǐng)?zhí)枺?/strong>2007100266467

注冊(cè) 地：中國(guó)

專利類(lèi)型：發(fā)明

專利領(lǐng)域：電學(xué)

聯(lián) 系人：溫建梅
聯(lián)系方式：020-38743199
簡(jiǎn)介說(shuō)明：
當(dāng)前權(quán)利人：華南師范大學(xué)
本發(fā)明涉及測(cè)試測(cè)量與成像技術(shù)領(lǐng)域。為了對(duì)待測(cè)物體形成更清晰的圖像，本發(fā)明提供一種利用熱聲成像檢測(cè)異物的方法及其裝置。該裝置由微波發(fā) 生組件、旋轉(zhuǎn)掃描組件、聲信號(hào)采集組件、計(jì)算機(jī)、樣品固定組件、聲耦合組件組成；其中微波發(fā)生組件、聲信號(hào)采集組件、計(jì)算機(jī)依次電氣連接；旋轉(zhuǎn)掃描組件與計(jì)算機(jī)電氣連接；樣品固定組件置于聲耦合組件內(nèi)；樣品固定組件與旋轉(zhuǎn)掃描組件電氣連接。本發(fā)明的方法和裝置定位準(zhǔn)確，分辨率高，能夠?yàn)楫?物檢測(cè)技術(shù)提供更為清晰的圖片。同時(shí)，與現(xiàn)有的檢測(cè)裝置相比，本發(fā)明的裝置造價(jià)更為低廉。

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